内藤電誠工業株式会社評価解析事業部は、半導体製品の信頼性評価(耐候性試験)/実装評価(耐熱性試験)/調査解析(外観/非破壊/半破壊/破壊)を行います。


〒213-0011 神奈川県川崎市高津区久本3-9-25

信頼性評価

■耐環境試験
■信頼性試験(導体抵抗モニタシステム)
■寿命推定試験
■機械的環境試験
ハイパワー環境試験
■2次実装評価
リフロー耐熱性試験
熱抵抗測定(製品サンプルで測定可能)

実装評価

耐熱性試験
シェア強度試験
リード端子引張り試験
染色試験
リボール(BGA半田ボール再生)

調査解析

■製品の故障個所及び故障原因の解析
X線解析(マイクロフォーカスX線
超音波探傷(SAT)解析
パッケージ開封解析 (Cuワイヤ可能)
エッチング解析
断面研磨解析/平面(表面)研磨解析
成分分析
■微細配線の切断・加工
■電気的特性測定

What's New

評価解析事例
自動車分野
評価解析事例
宇宙分野


 

信頼性評価
信頼性評価サービス内容
信頼性評価設備一覧
信頼性評価事例

実装評価
実装評価サービス内容
実装評価解説

調査解析
調査解析サービス内容
調査解析装置一覧
調査解析事例


  ■取り扱い製品
・半導体デバイス
・電子部品
・SMT基板
・2次実装品 等

事業案内

One Stop Newsバックナンバー
 

新着情報

2024.01.29 お知らせ

ネプコンジャパンご来場の御礼
第38回ネプコンジャパン展示会におきまして、弊社ブースに多数の
ご来訪をいただき、まことにありがとうございました。
開催期間において、204社の方々に足を運んでいただく
ことができました。

2024.01.09 お知らせ 第38回ネプコンジャパン出展のご連絡
会期:2024年01月24日(水)~26日(金)
会場: 東京ビックサイトアクセスはこちら
展示スペース:東展示棟 東1ホール ブースNo.E2-16
弊社出展の詳細はこちら
2024.01.05 お知らせ 年のご挨拶
あけましておめでとうございます
1月5日より2024年の業務開始となります。
信頼性評価、解析業務等にご用命等ございましたら
お気軽にご相談ください。
2023.12.25 お知らせ 年末年始休業のお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。
2023年12月29日(金)~2024年1月4日(木)
最終受付は12/27(水)までとなりますのでご了承ください。
2023.12.05 お知らせ 2023年度、弊社保有設備一覧を更新致しました。
1ページ目:恒温恒湿試験装置、高度加速寿命試験装置
詳しくはこちらをご参照ください。
2023.12.01 お知らせ

NIHONNBASHI SPACE WEEK2023ご来場の御礼
NIHONBASHI SPACE WEEK2023展示会におきまして、
弊社ブースに多数の ご来訪をいただき、まことにありがとうございました。
開催期間の3日間において、72社の方々に足を運んでいただく
ことができました。

2023.11.24 お知らせ 第38回ネプコンジャパン出展決定
会期:2024年01月24日(水)~26日(金)
会場: 東京ビックサイトアクセスはこちら
弊社出展の詳細につきましては、決定次第改めて
お知らせいたします。
2023.10.13 お知らせ NIHONBASHI SPACE WEEK 2023詳細続報、出展スペース決定
日時:2023年11月27日(月)~29日(水)
会場:日本橋三井ホール, 4F
出展スペース:B-6「内藤電誠工業」
上記出展について、詳細続報をお知らせいたします。
出展スペースはこちら
イベント情報はこちら
2023.10.06 お知らせ 2023年度、弊社保有設備一覧を更新致しました。
1ページ目:恒温恒湿試験装置、高度加速寿命試験装置
詳しくはこちらをご参照ください。
2023.09.29 お知らせ NIHONBASHI SPACE WEEK 2023出展決定
日時:2023年11月27日(月)~29日(水)
会場:日本橋三井ホール, 4F
イベント情報はこちら
2023.07.27 お知らせ 夏季休暇のお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。
2023年08月11日(金)~2023年08月20日(日)
2023年08月21日(月)より平常営業致します。
2023.06.09 お知らせ

電子機器2023トータルソリューションご来場の御礼
電子機器2023トータルソリューションにおきまして、弊社ブースに多数の
ご来訪をいただき、まことにありがとうございました。
開催期間において、153社の方々に足を運んでいただく
ことができました。

2023.04.28 お知らせ 電子機器2023トータルソリューション出展のご連絡
会期:2023年05月31日(水)~6月2日(金)
会場: 東京ビックサイト(アクセスはこちら)
展示スペース:東展示棟 東6ホール ブースNo.6A-12
弊社出展の詳細はこちら
2023.04.21 お知らせ ゴールデンウィークのお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。

2023年04月29日(土)~2022年05月07日(日)
2023年05月08日(月)より通常営業いたします。
※信頼性試験の試験槽は上記期間中も稼働して
  おりますので、ご入用の場合はご相談ください。
2023.01.31 お知らせ

ネプコンジャパンご来場の御礼
第37回ネプコンジャパン展示会におきまして、弊社ブースに多数の
ご来訪をいただき、まことにありがとうございました。
開催期間において、201社の方々に足を運んでいただく
ことができました。

2022.01.05 お知らせ 年のご挨拶
あけましておめでとうございます
1月5日より2022年の業務開始となります。
信頼性評価、解析業務等にご用命等ございましたら
お気軽にご相談ください。
2022.12.22 お知らせ 第37回ネプコンジャパン出展のご連絡
会期:2023年01月25日(水)~27日(金)
会場: 東京ビックサイトアクセスはこちら
展示スペース:東展示棟 東1ホール ブースNo.3-32
弊社出展の詳細はこちら
2022.12.15 お知らせ 年末年始休業のお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。
2022年12月29日(木)~2023年1月4日(水)
最終受付は12/26(月)までとなりますのでご了承ください。
2022.11.30 お知らせ 2022年度、弊社保有設備一覧を更新致しました。
1ページ目:冷熱衝撃試験槽
2ページ目:試料研磨装置、走査型電子顕微鏡
詳しくはこちらをご参照ください。
2022.10.06 お知らせ 【新規設備】 低真空分析SEM観察
通常SEMでは観察が困難な試料に対しても低真空分析
SEMであれば観察が可能です。
詳細はこちらをご参照ください
2022.07.29 お知らせ 夏季休暇のお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。
2022年08月11日(木)~2022年08月17日(水)
2022年08月18日(木)より平常営業致します。
2022.07.22 お知らせ

弊社溝口工場へのアクセスについて
弊社では「手指の消毒と検温、三蜜回避」を徹底して
おり、ご希望であればお客様と対面での打ち合わせ
対応を 実施しております。
ご検討案件など ございましたら、お気軽にご相談を
いただき、ご来社の際には気を付けて起こし下さい。
詳細はこちらをご参照ください

2022.06.21 お知らせ

電子機器2022トータルソリューションご来場の御礼
電子機器2022トータルソリューションにおきまして、弊社ブースに多数の
ご来訪をいただき、まことにありがとうございました。
開催期間において、174社の方々に足を運んでいただく
ことができました。

2022.05.24 お知らせ 電子機器2022トータルソリューション出展のご連絡
会期:2022年06月15日(水)~17日(金)
会場: 東京ビックサイト(アクセスはこちら)
展示スペース:東展示棟 東5ホール ブースNo.5H-19
弊社出展の詳細はこちら
2022.04.18 お知らせ ゴールデンウィークのお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。

2022年04月29日(金)~2022年05月08日(日)
2022年05月09日(月)より営業いたします。
※信頼性試験の試験槽は上記期間中も稼働して
  おりますので、ご入用の場合はご相談ください。
2022.01.05 お知らせ 年のご挨拶
あけましておめでとうございます
1月5日より2022年の業務開始となります。
信頼性評価、解析業務等にご用命などございましたら
お気軽にご相談ください。
2021.12.24 お知らせ 第36回ネプコンジャパン出展のご連絡
会期:2022年01月19日(水)~21日(金)
会場: 東京ビックサイトアクセスはこちら
展示スペース:東展示棟 東1ホール ブースNo.9-54
弊社出展の詳細はこちら
2021.12.21 お知らせ 年末年始休業のお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。
2021年12月29日(水)~2022年1月4日(火)
最終受付は12/24(金)までとなりますのでご了承ください。
2021.11.19 お知らせ

第36回ネプコンジャパン出展決定
前回につきましては、新型コロナ感染拡大防止の観点より
出展を見送りましたが、今回につきましては感染防止対策を
万全に行ない、出展する事が決定致しました。
出展ブース等の詳細につきましては、決定次第改めてお知
らせいたします。

2021.09.10 お知らせ 電子部品 模倣品調査サービス
半導体の模倣品(違法コピー商品)調査の相談を
受け賜わります。正規品(良品)と調査品(模倣品)
を比較調査(非破壊・破壊)し、検証を行います。
お問合せはフォームより申し込み願います。
2021.09.08 お知らせ 【ISO/IEC17025試験所認定】認定証をupしました。
認定機関:公益財団法人 日本適合性認定協会(JAB)
認定番号:RTL04800
有効期限:2020年10月19日~2024年10月31日
認定範囲:分野 M21 電気試験
 分類コード及び名称:M21.5 環境試験
               M21.5.3温度変化試験
 試験規格:JIS C60068-2-14(IEC 60068-2-14)
  試験Nb(6.1、6.2を除く)
温度範囲
  低温Tc:-40℃~0℃
  高温Tb:+65℃~+85℃
詳細はこちらをご参照ください
2021.07.27 お知らせ 夏季休暇のお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。
2021年08月07日(土)~2021年08月15日(日)
2021年08月16日(月)より平常営業致します。
2021.07.08

You Tube(YXLONチャンネル)X線CT観察事例説明
弊社保有のX線CT装置(Cheetah EVO)を用いた観察
事例のインタビュー動画です。
X線観察/CT観察のご依頼の参考にご覧ください。

2021.06.28

You Tube(YXLONチャンネル)での事業案内
弊社保有の X線CT装置(Cheetah EVO)メーカーの
エクスロン・インターナショナル(株)より インタビューを
受け、 You Tubeに登録されました。
事業説明と工場内の設備ラインナップが視聴いただけ
ますので、是非ご覧ください。

2021.05.27 お知らせ

弊社溝口工場へのアクセスについて
弊社では「手指の消毒と検温、三蜜回避」を徹底して
おり、ご希望であればお客様と対面での打ち合わせ
対応を 実施しております。
ご検討案件など ございましたら、お気軽にご相談を
いただき、ご来社の際には気を付けて起こし下さい。
詳細はこちらをご参照ください

2021.04.26 お知らせ ゴールデンウィークのお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。

2021年04月29日(木)~2021年05月05日(水)
2021年05月06日(木)より営業いたします。
※信頼性試験の試験槽は上記期間中も稼働して
  おりますので、ご入用の場合はご相談ください。
2021.02.25 お知らせ Webによる評価、解析へのご相談対応のお知らせ
弊社では新型コロナ感染予防対策として、信頼性
評価や解析など検討されているお客様に対して、
Webによる打ち合わせやご相談などの対応も行って
おります。
感染拡大予防と移動効率の両立の為に活用
いただければ幸いです。
2021.01.12 お知らせ 非常事態宣言下における弊社業務のお知らせ
弊社では「三密回避と毎日の検温、手指の消毒」を
徹底して業務やお客様対応を実施しております。
信頼性評価、または解析依頼のご検討案件など
ございましたら、お気軽にご相談ください。
2021.01.05 お知らせ 年のご挨拶
あけましておめでとうございます
本日1月5日より2021年の業務開始となります。
信頼性評価、解析業務等にご用命等ございましたら
お気軽にご相談ください。
2020.12.23 お知らせ 年末年始休業のお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。
2020年12月29日(火)~2021年1月4日(月)
最終受付は12/25(金)までとなりますのでご了承ください。
2020.12.15 お知らせ

第35回ネプコンジャパン(2021年度1月会期)出展見送り
7年連続出展しておりました、半導体パッケージング技術展(ICP)に関し
新型コロナ感染拡大防止の観点より、出展を見送ることに致しました 。

2020.11.05 信頼性評価 【ISO/IEC17025試験所認定】認定取得しました。
認定機関:公益財団法人 日本適合性認定協会(JAB)
認定番号:RTL04800
有効期限:2020年10月19日~2024年10月31日
認定範囲:分野 M21 電気試験
 分類コード及び名称:M21.5 環境試験 M21.5.3温度変化試験
 試験規格:JIS C60068-2-14(IEC 60068-2-14)試験Nb(6.1、6.2を除く)
詳細はこちらをご参照ください
2020.10.19 調査・解析 X線観察オンライン立合(リモート立合)のお知らせ。
新型コロナ感染予防対策での新しい働き方のスタイルとして、X線観察の
オンライン立会(リーモート立合)サービスを開始しました。
運用はこれからの為、段取りの良くないところがあるかも知れませんが、
感染拡大予防と移動効率の両立の為に活用頂ければ幸いです 。
詳細はこちらをご参照ください。
2020.07.31 お知らせ 夏季休暇のお知らせ
弊社は下記の期間、休業となります。
2020年08月08日(土)~2020年08月16日(日)
2020年08月17日(月)より平常営業致します。
2020.07.28 お知らせ 2020年度、弊社パンプレットを更新致しました。
詳しくはこちらをご参照ください。
2020.06.26 お知らせ 新型コロナウイルス感染拡大に伴う当社の対応について
このたびの新型コロナウイルス感染症で影響を 受けられた皆様には心より
お見舞い申し上げます。 また、感染拡大防止や生活インフラ等の 維持・
運営に尽力されている皆様には 心から感謝申し上げます。
弊社では、第2波、 第3波に備え、当社でも、お客様と従業員の 感染拡大
防止の観点から対策を強化し、 必要な対策を実施しております。
在宅での テレワークや、フレックスタイム制度を 活用しての 時差出勤など
を推奨しております。 その為、各種お問い合わせにつきましても、 迅速な
対応を努めておりますが、 お時間を いただく場合が御座います。
お客様にはご不便ご迷惑をお掛けしますが、
何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。
2020.06.05 お知らせ 2020年夏に【ISO/IEC17025試験所認定】を取得予定!
・認定項目: 【電気試験/環境試験:温度サイクル試験(JIS C 60068-2-14)】
・認定予定試験機:ハイパワー恒温恒湿器(型番:ARSF-0800-15) 
2020.04.27 お知らせ ゴールデンウィークのお知らせ
2020.04.24 お知らせ 新型コロナウイルス感染拡大に伴う当社の対応について
当社では、在宅でのテレワーク、フレックスタイム制度を活用しての
時差出勤などを推奨しておりますが試験等は稼働しております。
何か御座いましたら、 当社にご相談ください。
2020.03.30 調査・解析 卓上精密万能試験事例に【事例:基板FPCピール強度試験】を
追加致しました。
2020.03.05 調査・解析 卓上精密万能試験事例を追加致しました。
2020.03.04 調査・解析 X線CT観察事例を追加致しました。
2020.03.03 調査・解析 デジタルマイクロスコープ撮影事例を追加致しました。
2019.12.13 お知らせ 第21回半導体・センサパッケージ技術展に出展致しました。
会期:2020年01月15日(水)~17日(金)
会場: 東京ビックサイト(アクセスはこちら
展示スペース:西展示棟 ブースNo.W11-68
2019.12.13 お知らせ

年末年始休暇のお知らせ

2019.12.03

調査・解析

PIND試験事例を追加致しました。
2019.10.30 信頼性評価 EMI試験事例を追加致しました。
2019.10.24 お知らせ 第32回テクノトランスファーinかわさき2019に出展致しました。
会期:2019年11月13日(水)~15日(金)
会場:カルッツかわさき(アクセスはこちら
展示スペース:2階 小体育館 ブースNo.81

2019.08.07 お知らせ

夏季休暇のお知らせ

2019.07.04 信頼性評価 信頼性評価事例【衝撃試験】および【振動試験】を 追加致しました。
2019.06.25 お知らせ 第49回信頼性・保全性シンポジウムに出展致しました。
会期:2019年7月18(木)~19(金)
会場:日本教育会館(アクセスはこちら

また弊社佐久間が同シンポジウム内で発表致しました。
日時:2019年7月18日(木) 16:30~17:00
会館:A館
発表タイトル
【直並列接続回路型積層セラミックコンデンサの故障解析報告】
2019.06.03 お知らせ 「One Stop News Vol.4」を発刊致しました。
2019.05.17

調査・解析

マルチフォーカスX線CT装置をリプレース致しました。
2019.05.08 お知らせ

マイクロエレクトロニクスショー2019に出展致しました。
会期:2019年6月5日(水)~7日(金)
会場:東京ビックサイト 西3ホール(アクセスはこちら
弊社ブース 『 3-151 』

2019.04.25 お知らせ

大型連休休業のお知らせ

2019.03.19 調査・解析 卓上型万能試験機を装置一覧に追加致しました。
2019.01.23 お知らせ テクニカルショウヨコハマ2019に出展致しました。
2019.01.08 お知らせ 第20回半導体・センサパッケージ技術展に出展致しました
2018.11.08 お知らせ レーザーパッケージ開封事例を追加致しました。
2018.11.06 信頼性評価 EMI測定システム】及び【自動光学測定器】を装置一覧に追加致しました。
2018.10.17 信頼性評価 信頼性評価装置一覧】を更新致しました。
2018.10.03 お知らせ 2018年07月にISO9001-2015年版を認証取得しました
2018.10.02 お知らせ 第8回おおた研究・開発フェアに出展致しました。
2018.09.28 お知らせ

評価解析事例【自動車分野】および【宇宙分野】を 追加致しました。

2018.08.06 お知らせ

夏季休暇のお知らせ

2018.06.28 お知らせ 第31回テクノトランスファーinかわさき2018に出展致しました。
2018.06.27 お知らせ 第48回信頼性・保全性シンポジウムに出展しました。
2018.06.21 お知らせ ボンドテスタ事例を追加致しました。
2018.06.20 信頼性評価 振動試験機、衝撃試験機を装置一覧に
追加致しました。
2018.05.17 お知らせ 「One Stop News Vol.3」を発刊致しました。
2018.04.25 お知らせ ISO認定内、【環境方針】を更新致しました。
2018.04.17 お知らせ

マイクロエレクトロニクスショー2018に出展致しました。

2018.04.04 調査・解析 PIND試験装置を装置一覧に追加致しました。
2018.02.07 お知らせ テクニカルショウヨコハマ2018に出展致しました。
2017.12.28 お知らせ 第19回半導体パッケージング技術展(ISP)に出展致しました。
2017.12.22

調査・解析

デジタルマイクロスコープを装置一覧に追加致しました。
2017.12.15

調査・解析

レーザーパッケージ開封機を装置一覧に追加しました
ボンドテスターを装置一覧に追加致しました。
2017.10.18 お知らせ

「One Stop News Vol.2」を発刊致しました。

2017.10.30 お知らせ

第7回おおた研究・開発フェア2017に出展致しました。

2017.10.12

お知らせ

第30回マイクロエレクトロニクスワークショップ2017(MEWS)に カタログ出展致します。
2017.08.07 お知らせ

定期情報誌として「One Stop News」を創刊する事と致しました。

2017.07.31 お知らせ 九州日誠電氣㈱のホームページリンクを設定しました
2017.07.17 お知らせ 第47回信頼性・保全性シンポジウムに出展しました。
2017.07.17 お知らせ

テクノトランスファーinかわさき2017に出展致しました。

2017.05.18 お知らせ 事業案内(パンフレット)リニューアル致しました。
2017.02.28 お知らせ テクニカルショウヨコハマ2017に出展致しました。
2017.01.31 お知らせ 第18回半導体パッケージング技術展(ICP)に出展致しました。
2016.10.14

調査・解析

マルチフォーカスX線CTを装置一覧に追加しました。
2016.10.14

お知らせ

第29回MEWS2016に出展致しました。
2016.10.07 お知らせ

第6回おおた研究・開発フェア2016に出展致しました。 

2016.07.19 お知らせ

第46回信頼性・保全性シンポジウムに出展致しました。

2016.07.11 お知らせ

テクノトランスファーinかわさき2016に出展致しました。

2016.06.17 信頼性評価 冷熱衝撃槽(300℃タイプ)を導入/事例紹介を追加致しました。
2016.02.08 お知らせ

第37回テクニカルショーヨコハマ2016に出展致しました。

2016.01.18 お知らせ 第17回半導体パッケージング技術展(ICP)に出展致しました。       
2015.12.17 調査・解析 マルチフォーカスX線CTを2016年1月に導入致します。
2015.10.26 お知らせ 第28回MEWS2015にカタログ出展致しました。
2015.9.25

実装評価

染色試験事例を追加リニューアル致しました。
2015.9.18 信頼性評価 熱抵抗測定事例を追加リニューアル致しました。
  調査・解析 Cuワイヤ事例を追加リニューアル致しました。
2015.9.11 信頼性評価 リフロー耐熱性試験事例を追加リニューアル致しました。
  調査・解析 PKGの開封事例を追加リニューアル致しました。
2015.9.4 信頼性評価 温度サイクル連続抵抗モニター評価事例を追加リニューアル致しました。
  調査・解析 断面/平面解析事例を追加リニューアル致しました。
2015.8.28 信頼性評価 ハイパワー恒温恒湿試験槽を導入/事例紹介を追加致しました。
  調査・解析

デジタルマイクロスコープを導入致しました。

2015.8.21 お知らせ 事業案内(パンフレット)をリニューアル致しました。
2015.7.16-17 お知らせ 第45回信頼性・保全性シンポジウムに出展致しました。
2015.1.14-16 お知らせ 第16回半導体パッケージング技術展(ICP)に出展致しました。
2014.9.30

調査・解析

ドライエッチング装置をリプレイスしました。
異方性・等方性の選択エッチング、ファインプロセスLSI、
多層配線にも対応したエッチング加工を提供します。
2014.7.10-11 お知らせ 第44回信頼性・保全性シンポジウムに出展致しました。
2014.2.17 お知らせ リンク集を更新しました。(デンセイシリウス株式会社)
2014.2.4 調査・解析 リチウムイオン電池解析事例を追加しました。
2014.2.4 調査・解析 調査解析サービス内容エミッション顕微鏡解析・OBIRCH解析FIB加工・観察を追加しました。
2014.1.15-17 お知らせ 第15回半導体パッケージング技術展(ICP)に出展致しました。
2013.1.16-18 お知らせ 第14回半導体パッケージング技術展(ICP)に出展致しました。
2012.10.29 お知らせ ホームページをリニューアルしました。
2012.10.29 信頼性評価 事例集(信頼性評価事例、調査解析事例)を追加しました。
2012.10.29 お知らせ 事業案内(パンフレットが開きます)を追加しました。
2010.09.27 信頼性評価 温度サイクル試験装置リニューアル TSA-71H(Hiスペック装置)導入
2010.05.18 調査・解析 断面研磨事例を追加しました。
2009.07.08 調査・解析 調査解析サービスにクロスセクションポリッシャ追加
2009.02.05 調査・解析 クロスセクションポリシャ(CP)新規導入しました。
従来の機械研磨では消しきれない微細なスクラッチ傷、ダレ等をアルゴンイオンビームを使用し、ダメージの無いフラットな鏡面をご提供出来ます。

最終更新日 2024/01/29

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