内藤電誠工業株式会社評価解析事業部は、半導体製品の信頼性評価(耐候性試験)/実装評価(耐熱性試験)/調査解析(外観/非破壊/半破壊/破壊)を行います。


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X線ではCT機能により3D観察やスライス観察が可能です。
FE-SEMでは80万倍までの観察が可能です。クロスセクションポリッシャーでは、断面加工及びフラットミリングが可能です。
超音波探傷(SAT)では25、50、75、140、230MHZの観察が可能性です。

調査解析装置一覧
調査解析装置一覧
名称 メーカー・形式 仕様

電界放出(放射)
走査型電子顕微鏡
(FE-SEM)
走査型電子顕微鏡

日立
SU8000
二次電子像分解能:1.0nm
加速電圧:0.1kV~30kV
倍率:×30~×800,000
試料サイズ:Φ150mm
二次検出器:Top/Upper/Lower
       SE(二次電子)・BSE-H(組成情報)・
       BSE-L(組成+凹凸情報)   
HORIBA
EMAX x-act250
検出元素範囲:B(5)~U(92)
検出器:シリコン・リチウム・ドリフト型
分解能:137ev以下
その他:定性分析、カラーマッピング機能、
     定量分析(1%未満分析可能)、多点・線分析
名称 メーカー・形式 仕様

マルチフォーカス
X線CT装置
μF-X線装置

エクスロン
Cheetah EVO
透視観察:ナノ・マイクロ・ハイパワー
CTスキャン:直交+斜めCTスキャン
観察倍率:~3000倍
焦点寸法:最小0.3μm
管電圧:最大160kV 管電流:最大1mA
ステージサイズ:460mm×410mm サンプル重量:最大5kg
映像素子:FPD 16bit 100万画像

マイクロフォーカス
X線装置
μF-X線装置

SHIMADZU
SMX-160LT
焦点寸法:0.4μm フィラメント:LaB6
観察倍率:5~2700倍(モニタ上)
最大管電圧:160kV 最大管電流:200μA
ステージサイズ:350mm×300mm
X線透過装置
X線透過装置
ソフテックス
CD-100
観察倍率:×7~65 焦点寸法:0.3mm
最大管電圧:100kV 最大管電流:3mA
名称 メーカー・形式 仕様
超音波探査映像装置 (SAT)
超音波探査映像装置 (SAT)
日立建機
ファインテック
HYE-FOCUSⅡ
走査範囲:340×340mm
最大倍率:1000倍
最小ピッチ:2.5μm 256表示階調
プローブ種類:25、50、75、140、230MHz
名称
メーカー・形式 仕様
試料切断装置

試料切断装置
リファインテック
RCA-005
ダイヤモンド切断ホイールΦ5インチ使用
試料切断装置
BUEHLER
アイソメット2000
ダイヤモンド切断ホイールΦ6インチ使用
名称
メーカー・形式 仕様

試料研磨装置
試料研磨装置


試料研磨装置

BUEHLER
エコメット4000
研磨ディスク:12インチ
回転数:10~500rpmで10rpm毎に可変
BUEHLER
エコメットツイン
研磨ディスク:8インチ
回転数:10~350rpmで10rpm毎に可変
ポリシステム
PS-2000
研磨ディスク:200mm
回転数:10~200rpm無断変速
丸本ストルアス
ロトポール25
研磨ディスク:250mm/2枚
回転数:40~600rpmで無断変速
クロスセクションポリッシャ
クロスセクションポリッシャ

日本電子
SM-09020CP
MarkⅡ

イオン加速電圧:2~6kV イオンビーム径:500um( 半値幅)
最大搭載試料サイズ/ミリングスピード
 CP:幅11mm×長さ10mm×厚さ2mm/100um/H
 ミリング幅20mm×長さ20mm×厚さ3mm/4um/H
試料移動範囲:X軸:±3mm、Y軸:±3mm 試料角度調整:±5度
ディンブルグラインダー
ディンプルグラインダー
GATAN
Dimple Grinder
Model 656

初期試料厚さ:200μm以下  最終試料厚さ:5~10μmまで
研磨ホイール径:15mmφ 研磨ホイール速度:0~600rpm

名称 メーカー・形式 仕様
実体顕微鏡
実体顕微鏡
ライカ
Z16 APO
観察倍率:×3.6~×230
撮影装置:デジタル高精細画像・インスタントフィルム
      (ニコン DMX-1200Fデジタルカメラシステム)
実体顕微鏡
オリンパス
SZH10
観察倍率:×3.5~×140
撮影装置:デジタル高精細画像・インスタントフィルム
デジタル
マイクロスコープ
キーエンス VHX-6000
キーエンス
VHX-6000
観察倍率:0.1倍~2000倍
2D計測機能(多点計測可)
撮ライブ深度合成
自動画像連結機能
傾斜観察角度:最大90度
名称 メーカー・形式 仕様
金属・透過型顕微鏡
金属・透過型顕微鏡
ニコン
エクリプスME600L
観察倍率:×25~×1500
撮影装置:デジタル高精細画像・インスタントフィルム
      (ニコン DMX-1200デジタルカメラシステム)
オリンパス
BX60MF5
観察倍率:×37.5~×990
撮影装置:デジタル高精細画像・インスタントフィルム
      (ニコン DMX-1200デジタルカメラシステム)
オリンパス
BHC
観察倍率:×25~×840
名称 メーカー・形式 仕様
レーザーパッケージ開封機
レーザーパッケージ開封装置
ハイソル社製
Laser Decap PRO
レーザー方式:Nd・YVO4レーザー
・波長:1,064nm ・定格出力:>9W
・パルス周波数:0-200kHz ・加工範囲:200×200nm
パッケージオープナー
(自動開封装置)
パッケージオープナー
日本
サイエンティフィック
PA-103
使用薬品:発煙硝酸 
開封可能パッケージ:プラスティックモールド
開封温度50℃~80℃ 時間設定:0~59分59秒
名称 メーカー・形式 仕様
ドライエッチング装置
反応性イオンエッチング
日本
サイエンティフィック
ES373
高周波出力:20~100W 電極間距離:30mm
シーケンス動作:全自動
使用真空度:5~80Pa プロセスガス:CF4,O2,他
ステージ温度範囲:30~50℃
エッチング時間:0~99min.59sec.
名称 メーカー・形式 仕様
ボンドテスター
ボンドテスター
ザイズテック
Condor Sigma
ボンディングワイヤプル/シェア
Alリボン線プル/シェア、ダイシェア
ロードセル:100gf、10kgf
測定誤差:±0.075%
名称 メーカー・形式 仕様
PIND試験装置

PIND
B&Wエンジニアリング社製
BW-LPD-DAQ4000
周波数:40Hz(27Hz)~260Hz
加速度:0~20Gピーク
衝撃:1000±200G
トランスデゥーサ:感度-77.5±3db
ステージ:2インチ
名称 メーカー・形式 仕様
カーブトレーサー
サーモストリーマ

Tektronix
370B

ステップ・ゼネレーター機能搭載
最大ピーク電力220W、電圧2000V、電流10A
名称 メーカー・形式 仕様
卓上型精密万能試験機
サーモストリーマ
SHIMADZU
オートグラフ AGS-5kNX
負荷容量:5kN
試験力測定精度:±1%以内
クロスヘッド(引張ストローク):1200mm(885mm)
試験空間(テーブル面):幅420mm×奥行(無限)
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