衝撃試験｜正弦半波による衝撃試験

半導体・電子機器等の衝撃試験が実施可能です。
正弦半衝撃試験が対応可能です

信頼性評価事例

①実施可能試験
　正弦半波による衝撃試験

②試験条件
　衝撃加速度と衝撃作用時間は組み合わせにより
　対応の可否が変わります
　一般的に衝撃加速度が早い場合は作用時間が
　短くなります。

【衝撃試験条件例】
衝撃加速度：1500G
衝撃作用時間：0.5ms

衝撃波形
　

半導体製品の信頼性評価／実装評価／調査解析についてのお問い合わせ

内藤電誠工業株式会社
評価解析事業部（溝ノ口工場）
〒213-0011　神奈川県川崎市高津区久本3-9-25

内藤電誠工業株式会社評価解析事業部は、半導体製品の信頼性評価（耐候性試験）／実装評価（耐熱性試験）／調査解析（外観／非破壊／半破壊／破壊）を行います。