導体抵抗システムでは微小クラック等を抵抗値の変化により判定する事が可能です。
リフロー耐熱試験ではベーク・吸湿・リフローまでの試験を行います。
熱抵抗測定ではLSIを基板に組み込む際の判断材料として適用していただけます。
信頼性評価事例 |
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Datalogger:type2750(KEITHLEY)
No of differential input channels | 200 |
Martrix crosspoints | 240 |
Ohms resolution | 1μΩ |
No of slots | 5 |
Size(2U height) | Full-rack width |
Communications | GPIB.RS-232 |
Scan-Rate(memory) | 230/S |
Scan-Rate(bus) | 210/S |
Max.internal Trigger Rate | 2000/S |
Max.External Trigger Rate | 375/S |
導体抵抗変化図
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統計的手法解析例
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弊社では導体抵抗評価システム(AMR)を取り入れ、TC試験機と連動させることで半導体部品などの接合部に発生する微小クラックをより正確に捉える事が可能です。
内藤電誠工業株式会社
評価解析事業部(溝ノ口工場)
〒213-0011 神奈川県川崎市高津区久本3-9-25